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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
 
重力式雙軌道分選機

適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 常高溫雙軌並測，比單軌效率提升80%。 動態測試Docking結構雜訊低於30uH。 提供30°C~200°C可調高溫測試環境。



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴展

型號 重力式雙軌道分選機
產品介紹 適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。
功能 ? 常高溫雙軌並測，比單軌效率提高80%。
? 動態測試Docking結構雜訊低於30uH。
? 提供30°C~200°C可調高溫測試環境。


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